南通检测仪使用教程

在超声波传播中，在不同声速的两种介质界面上，临界角实质是指折射角为90°时的入射角（按斯涅耳定律计算），这只能在被入射介质中的声速大于入射介质的声速时发生。超过这一角度时在被入射介质中不会出现某种的特定波形。根据斯涅耳定律sinβ=（V2÷V1）sinα式中：α为入射角β为折射角V2为被入射介质的声速V1为入射介质的声速如入射介质是水，被入射介质是钢，根据斯涅尔定律存在两个临界角，sinα=sinβ÷(V2÷V1)=V1÷V2临界角：α=arcsin[sin90°÷(5900m/s÷1483m/s)]=14.5°第二临界角：α=arcsin[sin90°÷(3230m/s÷1483m/s)]=27.3°超声波数字检测仪设备可以进行多种语言的切换，适应不同地区的使用需求。南通检测仪使用教程

探伤仪

概述：带延迟块超声波探头，通过在探头下方加装延时块，以提供不同的超声波检测功能和选项。延时块根据需求设计，有可拆卸延迟块、表面保护膜和橡胶延时块等选项。带延迟块探头的主要功能是利用探头晶片与工件表面之间的时间延迟，这样能够提高表面分辨率。带延迟块探头设计用于高精度厚度的测量，超薄工件等应用材料和复合材料的分层检测。使用耐高温材料的延时块还可以制作成用于高温材料检测的高温超声波探头。应用：带延迟块探头常用于超薄工件检测和高精度测厚，因此，常采用10MHz/15MHz/20MHz等高频率，超高频超声波探头需具备窄脉冲宽频的特性，在薄板金属构件或焊接接头超声检测中具有较高的精度和实用性。浙江工业无损探伤仪HUT-3X0系列手持数字超声波探伤仪探伤时缺陷长度的测定方法。

CSK-IA试块是我国承压设备无损检测标准JB/T4730—2005中规定的标准试块，是在IIW试块基础上改进后得到的，其结构及主要尺寸如图4—30所示。CSK-IA试块有三点改进:1)将直孔φ50mm改进φ50mm、φ44mm、φ40mm台阶孔，以便于测定横波斜探头的分辨力。2)将R100改为R100、R50阶梯圆弧，以便于调整横波扫描速度和检测范围。3)将试块上标定的折射角改为K值(K=tanβs)，从而可直接测出横波斜探头的K值。CSK-IA试块的其他功能同IIW试块,材质一般同被检工件。(4)CSK-IA,CSK一IA和CSK一ⅣA标准试块CSK-IA,CSK-IIA,CSK-ⅣA试块是JB/T4730—2005标准中规定采用的焊缝超声波检测用的横孔标准试块。CSK-IA结我国的CSK系列标准试块比较特殊，要求试块材质与工件相同或相近。CSK-IA,CSK一IA,CSK-ⅣA试块主要用于测定横波距离一波幅曲线、斜探头的K值和调整横波扫描速度和灵敏度等。其中CSK-IA和CSK-A适用于壁厚范围为8~120mm的焊缝，CSK-ⅣA系列试块用于壁厚范围120～400mm的焊缝。

方法一：横波探伤法对焊缝进行超声波检测时，需要在焊缝两侧进行探伤，找到底端反射波B，移动超声波探头找到顶端反射波T，出现在B和T波之间的异常回波（F）即为缺陷波，由于超声波检测时采用声波的多次反射法进行探伤，可选择具有半跨距显示功能的超声波探伤仪，通过输入检测板厚度值，从而在超声波探伤仪波形显示区域可更直观的显示出检测缺陷的具体信息。方法二：超声波穿透法如果焊接后表面平整，也可采用纵波法进行探伤，如果焊缝中存在一定尺寸的气孔或者夹杂缺陷，收到的超声波波幅远远小于没有缺陷时，当缺陷达到一定尺寸后，接收探头无法接收到超声波。超声波数字检测仪可以进行多种数据处理方式的选择，提高数据分析能力。

试块的分类超声检测用试块通常分为标准试块、对比试块和模拟试块三大类。(1)标准试块标准试块通常是由机构制定的试块，其特性与制作要求有专门的标准规定。标准试块通常具有规定的材质、形状、尺寸及表面状态。如IIW试块,CBI,CBII;CSI.CSII,CSⅢ;CSK-IA，CSK-ⅡIA，CSK-ⅢA，CSK-ⅣA。(2）对比试块对比试块是以特定方法检测特定工件时采用的试块，含有意义明确的人工反射体（平底孔、槽等)。它与被检工件材料声学特性相似，其外形尺寸应能被检工件的特征，试块厚度应与被检工件的厚度相对应。对比试块主要用于检测校准以及评估缺陷的当量尺寸，以及将所检出的不连续信号与试块中已知反射体产生的信号相比较。(3）模拟试块模拟试块是含模拟缺陷的试块，可以是模拟工件中实际缺陷而制作的样件，或者是在以往检测中所发现含自然缺陷的样件。模拟试块主要用于检测方法的研究、无损检测人员资格考核和评定、评价和验证仪器探头系统的检测能力和检测工艺等。手持数字超声波探伤仪校准方法、校准视频!浙江数字超声波探伤仪用途

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浑身是宝的CSK-IA超声波试块CSK-IA试块是超声波检测较常用的试块之一，标准中对于试块的定义分为标准试块、对比试块，其中CSK-IA试块稳居标准试块行列已有15年之久。针对CSK-IA试块的各部分功能进行描述（1）采用R=50mm，R=100mm弧，可用于测定声速、探头的入射点（前沿、探头延迟），如果只采用单弧（50mm或100mm）可测定探头的入射点，声速可以手动输入。建议可采用单弧测试，测定声速为CSK-IA试块的声速！（2）可采用三个不同深度的台阶底面（85mm、91mm、100mm）用于测定直探头的分辨力，测试结果可做参考NB/T47013要求测试方法参考JB/T9214。(3)可采用40mm、44mm、50mm三个阶梯孔测定斜探头的分辨力，此处测试结果可做参考，NB/T47013要求测试方法参考JB/T9214。另外可采用50mm圆孔测试斜探头K值，K2、K2.5、K3探头布置在上表面，K1、K1.5探头布置在下表面。采用50mm圆孔还可测试直探头的盲区，探头位置分别布置在试块上表面及侧面，此处测试结果也作为参考，具体方法应参照JB/T9214。（4）φ1.5mm横孔可用于测试斜探头K值。（5）将CSK-IA试块平置，可用25mm大平底、测试水平线性、垂直线性，垂直线性测试结果可作参考，具体方法参照JB/T9214。另外可用大平底校准直探头！南通检测仪使用教程

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